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Highlights
von GEFRA

Erkennung von feinsten Rissen und Kratzern

Die Inspection der Oberfläche auf kleinste Riefen und Kratzer besonders bei einer inhomogenen Oberfläche ist mit der herkömmlichen Beleuchtung und Auswertung eine große Herausforderung und führt meistens zu einem hohem Pseudo-Schrottanteil.

Mit dem Einsatz der SFS-Technologie (shape from shading) können die Probleme gelöst werden.
Die GEFRA setzt bereits seit vielen Jahren die SFS-Prüfung bei Bedarf im Prüfsystem OPTISORT ein. Bei Stanzteilen ist es meistens erforderlich diese Prüfung beidseitig, von oben und unten, einzusetzen. Die neueste Generation SFS kann mit einer Leistung von bis zu 600 / min beide Stationen von oben und unten über einen PC verarbeiten.

Die Einstellung erfolgt über die bekannte AutoControl Software und ist entsprechend einfach zu bedienen.
Das SFS-Verfahren basiert auf 4 Bildern je Teil bzw. Fläche, jedes dieser Bilder ist mit einer anderen Beleuchtungs¬richtung aufgenommen. Unterschiedliche Farben auf der Oberfläche des Teils haben keinen Einfluss auf das SFS-Bild, sondern nur Kratzer, Vertiefungen, Partikel usw. Ein Algorithmus rechnet die Informationen der 4 Bilder zu einem Bild zusammen, welches auf einem Grauwert für die Mitte der Oberfläche basiert. Höhere Bereiche werden heller dargestellt, tiefere Bereiche werden dunkler dargestellt.

Alle unsere Standard-Inspektionswerkzeuge können auf diesem Bild angewendet werden, um die Ober-flächenfehler auszuwerten.

Für den SFS-Prozess ist eine genaue Beleuchtungsposition zwingend erforderlich, daher sind alle unsere SFS-Beleuchtungen mit einer motorischen Achse ausgestattet, um die Positionsdaten der Beleuchtung im Prüfplan zu speichern. Wird das gleiche Teil zu einem späteren Zeitpunkt überprüft, fährt die Beleuchtung automatisch an die gespeicherte Position.
Fehlerteil mit Riss im Auflicht
SFS Aufnahme